• 4 種雙光源掃描模式
• 高速掃描：最高可達 30 條交叉線
• 工業級精度：最高可達 0.01 mm
• MetroX Pro體積精度再升級：0.02 mm + 0.04 mm × L（m）
• 掃描範圍：小型至中型物件
• 全視野結構光模式：最高 7,000,000 點/秒
• 多線雷射模式：最高 2,000,000 點/秒
• PC 到手機掃描串流（即時傳輸）

無須噴粉輔助，快速捕捉平面、高反光或深色物体。MetroX Pro 提速 150%，具備 30 束交叉雷射線，高達 2,000,000 點/秒。
*GPU 加速功能相容性：目前僅支援 NVIDIA RTX 30 及 40 系列顯示卡（限 Windows 系統）。

精準捕捉細微結構、邊緣特徵與複雜曲面。線數提升 2 倍以上，擁有 15 束雷射平行線。

搭載 62 條強勁光束，數秒內即可完成特徵豐富工件的高效掃描。點雲生成速度高達每秒 700 萬點。

雙軸轉台與 Revo Metro、MetroX Pro 設備協同作業，輕鬆實現精準無誤的全彩自動化掃描。

精度提升 20%，達到 0.02 mm + 0.04 mm × L (m)。精準捕捉複雜幾何結構，可直接用於計量檢測或 CAD 工作流。

MetroX Pro 可透過 Revo Mirror 軟體，將掃描畫面即時投射至手機或平板。智慧識別資料缺失區域，操作更自由。

可與 Revo Design（CAD軟體）、Revo Measure（量測軟體）協同運作，打造從掃描到設計再到檢測驗證的一體化工作流。